MÉTODO, DISPOSITIVO DE AVALIAÇÃO PARA DETERMINAR A POSIÇÃO DE UMA ESTRUTURA LOCALIZADA EM UM OBJETO A SER INVESTIGADO POR MEIO DE TOMOGRAFIA COMPUTADORIZADA POR RAIOS X E TOMÓGRAFO COMPUTADORIZADO POR RAIOS X

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Priority claims

Abstract

MÉTODO, DISPOSITIVO DE AVALIAÇÃO PARA DETERMINAR APOSIÇÃO DE UMA ESTRUTURA LOCALIZADA EM UM OBJETO A SER INVESTIGADO POR MEIO DE TOMOGRAFIA COMPUTADORIZADA POR RAIOS X E TOMÓGRAFO COMPUTADORIZADO POR RAIOS XEm um método e um dispositivo de avaliação para determinar a posição de uma estrutura localizada em um objeto a ser investigado por meio de tomografia computadorizada por raios X, um registro de dados de corte, é determinado a partir de um registro de dados de volume do objeto. O registro de dados de corte é binarizado para formar um registro de dados binário, em que os voxels de estrutura (s) que fazem imagem a estrutura e os voxels de superfície (f) que fazem imagens de uma superfície do objeto, são determinados. Para determinar a posição, um registro de dados de distância (A) é produzido de tal modo que um valor de distância (w), que caracteriza a menor distância do respectivo voxel de distância (a) dos voxels de superfície (f), é atribuído cada voxel de distância (a) do registro de dados de distância (A). Os voxels de distância (a) correspondentes aos voxels de estrutura (s) são, então, determinados e os valores de distância associados (w) avaliados. Com a determinação de um valor mínimo de valores de distância (w), a menor distância de um canal de resfriamento a partir da superfície de um êmbolo pode, por exemplo, ser determinada.