Adição na publicação
#15.35
08/24/2021
RPI 2642
Application data
Number
112012013696Type
Filing
Publication
PCT
IB2010055571 The application was abandoned: the INPI technical office action was not answered in time (art. 36 of the Brazilian IP Act). The technology is in the public domain in Brazil.
Talk to a specialistLatest action published by the INPI: 08/24/2021. We update with every new RPI gazette, published weekly.
Applicants
KONINKLIJKE PHILIPS ELETRONICS N.V.
NL
KONINKLIJKE PHILIPS N.V.
NL
Inventors
D. G. (pessoa física)
NL
E. R. (pessoa física)
US
G. V. (pessoa física)
NL
G. M. (pessoa física)
NL
K. E. (pessoa física)
NL
S. S. (pessoa física)
NL
T. K. (pessoa física)
NL
IPC Classification
Priority claims
EP
09178692.1 · 12/10/2009
Abstract
EQUIPAMENTO PARA GERAÃÃO DE IMAGEM DE CONTRASTE DE FASE, SISTEMA DE RAIOS X, MÃTODO PARA ADQUIRIR INFORMAÃÃES DE IMAGEM DE CONTRASTE DE FASE E USO DE UM EQUIPAMENTO PARA GERAÃÃO DE IMAGEM DE CONTRASTE DE FASE.A presente invenção se refere à aquisição de imagens em tecnologia de raios X em geral.Empregando geração de imagem de contraste de fase para aquisição de imagens em raios X pode aumentar significantemente a qualidade e o conteúdo das informações das imagens adquiridas. No entanto, as informações de contraste de fase somente podem ser obtidas em uma região pequena do detector, possivelmente muito pequena para um campo de visão suficiente para aplicações especializadas de geração de imagem de raios X. Consequentemente, é provido um equipamento para geração de imagem de contraste de fase que pode permitir a aquisição de um campo de visão aumentado. De acordo com apresente invenção, é provido um equipamento (1) para geração de imagem de contraste de fase, compreendendo uma fonte de raios X (2), um elemento detector de raios X (12) tendo um tamanho de detector, uma grade de separação de feixes (8) e uma grade analisadora (10). Um objeto (6) pode ser disposto entre a fonte de raios X (2) e o detector de raios X (12). A grade de separação de feixes (8) e a grade analisadora (10) podem ser dispostas entre a fonte de raios X (2) e o detector de raios X (12). A fonte de raios X (2), a grade de separação de feixes (8), a grade analisadora (10) e o detector de raios X (12) são acoplados operativamente de modo que possa ser obtida uma imagem de contraste de fase do objeto (6). O equipamento (1) 6 adaptado para adquirir uma imagem de contraste de fase tendo um campo de visão maior do que o tamanho do detector. O elemento detector de raios X (12) pode ser deslocado e pelo deslocamento do detector de raios X (12) pode ser obtida uma imagem de contraste de fase do campo de visão.
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
#15.35
08/24/2021
RPI 2642
#11.2
01/14/2020
RPI 2558
#6.1
08/27/2019
RPI 2538
#6.6.1
01/08/2019
RPI 2505
#28.1
O pedido de patente está apto a participar do Projeto Piloto PPH, uma vez que o requerimento apresentado atende ao disposto na resolução que trata do Projeto.
10/16/2018
RPI 2493
Anulada a publicação código 28.2 na RPI nº 2480 de 17/07/2018 por ter sido indevida.
08/28/2018
RPI 2486
#1.3.1
Foi retificada a publicação 1.3 da RPI 2470 de 08/05/2018 em relação ao item 30 da mesma. Ressalta-se que já foi deferida uma alteração de nome do depositante de "Koninklijke Philips Eletronics N.V." para "Koninklijke Philips N.V."
07/24/2018
RPI 2481
O pedido de patente não está apto a participar do Projeto Piloto PPH, uma vez que o requerimento apresentado não atende ao disposto na resolução que trata do Projeto.
07/17/2018
RPI 2480
#25.7
06/12/2018
RPI 2475
#25.4
05/29/2018
RPI 2473
#1.3
05/08/2018
RPI 2470
#1.1
11/06/2012
RPI 2183
From the same holder
Same category
Patent monitoring
Receive alerts on INPI events, decisions, and expiry dates for your portfolio.