RASTREABILIDADE PARA TRÁS DE COMPONENTE DISCRETO E RASTREABILIDADE PARA FRENTE DE DISPOSITIVO SEMICONDUTOR

IPC Classification

Abstract

RASTREABILIDADE PARA TRÃS DE COMPONENTE DISCRETO E RASTREABILIDADE PARA FRENTE DE DISPOSITIVO SEMICONDUTORà mostrado um sistema para a provisão de rastreabilidade para trás e para frente por uma metodologia a qual identifica componentes discretos (matriz, substrato e/ou passivos) que são incluídos em um dispositivo de semicondutor. A presente tecnologia ainda inclui um sistema para a geração de um identificador único e a marcação de um dispositivo de semicondutor com o identificador único, permitindo que o dispositivo de semicondutor e os componentes discretos naquele dispositivo sejam seguidos erastreados através de cada processo e teste na produção do dispositivo de semicondutor.