MÉTODO DE TESTE DE PADRÃO, DISPOSITIVO, APARELHO E MEIO PARA MATRIZ ÚNICA

IPC Classification

Priority claims

Abstract

MÉTODO DE TESTE DE PADRÃO, DISPOSITIVO, APARELHO E MEIO PARA MATRIZ ÚNICA. Este pedido revela um método de teste de padrão e um dispositivo, um aparelho e um meio para uma matriz única. O método compreende: quando a primeira capacidade a ser testada de uma primeira matriz única a ser testada em uma pastilha a ser testada for maior que um limiar de capacidade predefinido, obter um primeiro arquivo de aprovação de parâmetro atual; o primeiro arquivo de aprovação de parâmetro compreende: primeiras informações de seleção de algoritmo e uma diferença predefinida; atualizar as primeiras informações de seleção de algoritmo com base em uma primeira diferença de capacidade entre a primeira capacidade a ser testada e o limiar de capacidade predefinido e a diferença predefinida para obter segundas informações de seleção de algoritmo e um segundo arquivo de aprovação de parâmetro atualizado; determinar e iniciar um algoritmo de teste de padrão alvo de múltiplos algoritmos de teste de padrão candidatos diferentes de acordo com as segundas informações de seleção de algoritmo.