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MÉTODOS PARA TREINAMENTO DE UMA REDE NEURAL E PARA DETECÇÃO DE ANOMALIAS EM UM PRODUTO DE MANUFATURA, SISTEMA DE INSPEÇÃO PARA DETECÇÃO DE ANOMALIAS EM UM PRODUTO DE MANUFATURA, E, MÍDIA LEGÍVEL POR COMPUTADOR NÃO TRANSITÓRIA

PublicadaInvention Patent

Application data

Number

102023015958

Type

Invention Patent

Filing

08/08/2023

Publication

02/18/2025

Progress at the INPI

  1. Filing08/08/23
  2. Publication02/18/25
  3. Examination
  4. Allowance
  5. Grant
  6. In force

The application was published in the RPI gazette on 02/18/2025 and is now open to any interested party. It moves on to technical examination at the INPI.

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Latest action published by the INPI: 02/18/2025. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

SAMSUNG ELETRÔNICA DA AMAZÔNIA LTDA.

SP, BR

U. C. (pessoa física)

SP, BR

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Inventors

A. R. (pessoa física)

BR

A. A. (pessoa física)

BR

G. V. (pessoa física)

BR

G. O. (pessoa física)

BR

G. C. (pessoa física)

BR

J. N. (pessoa física)

BR

J. P. (pessoa física)

BR

L. F. (pessoa física)

BR

M. A. (pessoa física)

BR

R. A. (pessoa física)

BR

Y. I. (pessoa física)

BR

Technical data

IPC Classification

Abstract

MÉTODOS PARA TREINAMENTO DE UMA REDE NEURAL E PARA DETECÇÃO DE ANOMALIAS EM UM PRODUTO DE MANUFATURA, SISTEMA DE INSPEÇÃO PARA DETECÇÃO DE ANOMALIAS EM UM PRODUTO DE MANUFATURA, E, MÍDIA LEGÍVEL POR COMPUTADOR NÃO TRANSITÓRIA. A presente invenção se refere a um método para treinamento de uma rede neural para detecção de anomalias em um produto de manufatura que compreende: obter um conjunto de dados que inclui múltiplas imagens de produto de manufatura e arquivos de a notação com coordenadas de regiões anômalas predeterminadas em cada imagem de produto de manufatura; selecionar um conjunto de consulta de teste e um conjunto de suporte de imagens a partir dos múltiplos conjuntos de dados para treinar um modelo de deep learning, em que o conjunto de suporte de imagens compreende pares de imagens de referência e cada par compreende imagens de produto de manufatura anômalo e não anômalo; inserir o conjunto de consulta de teste em um modelo de deep learning para inferir um escore de similaridade com base na distância de similaridade entre pares de imagens de referência do conjunto de suporte com base nos arquivos de anotação; e ajustar os parâmetros do modelo de deep learning por meio de um modelo com base no escore de similaridade. A presente invenção também se refere a um método e a um sistema de inspeção para detecção de anomalias em um produto de manufatura.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Publicação do pedido de patente

#3.1

02/18/2025

RPI 2824

Pedido de patente depositado

#2.1

09/19/2023

RPI 2750

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '870230070037' em 08/08/2023 17:02 (WB)

08/22/2023

RPI 2746

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