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MÉTODO PARA APLICAR VALOR DE REFERÊNCIA DE CONTROLE AO ANALISADOR DE AMOSTRA, ANALISADOR DE AMOSTRA E PROGRAMA DE COMPUTADOR

PublicadaInvention Patent

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Application data

Number

102023002970

Type

Invention Patent

Filing

02/16/2023

Publication

10/10/2023

View on INPI

Progress at the INPI

Filing02/16/23
Publication10/10/23
Examination
Allowance
Grant
In force

The application was published in the RPI gazette on 10/10/2023 and is now open to any interested party. It moves on to technical examination at the INPI.

Latest action published by the INPI: 10/10/2023. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

S. C. (pessoa física)

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Inventors

D. F. (pessoa física)

F. H. (pessoa física)

K. K. (pessoa física)

K. S. (pessoa física)

T. K. (pessoa física)

Y. N. (pessoa física)

Technical data

IPC Classification

G01N 35/00

Priority claims

2022-030425 · 02/28/2022

Abstract

MÉTODO PARA APLICAR VALOR DE REFERÊNCIA DE CONTROLE AO ANALISADOR DE AMOSTRA, ANALISADOR DE AMOSTRA E PROGRAMA DE COMPUTADOR.Para fazer com que um valor de referência de controle seja determinado de forma mais eficiente e aplicado a um analisador de amostra em uma instalação de teste. Este método para aplicar um valor de referência de controle a um analisador de amostra é um método para aplicar um valor de referência de controle referente a uma amostra de controle de qualidade a um analisador de amostra por um computador. O método inclui: gerar o valor de referência de controle com base em um resultado de medição da amostra de controle de qualidade medida pelo analisador de amostras; e aplicar o valor de referência de controle ao analisador de amostra.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Publicação do pedido de patente

#3.1

10/10/2023

RPI 2753

Pedido de patente depositado

#2.1

03/07/2023

RPI 2722

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '870230013934' em 16/02/2023 14:54 (WB)

02/28/2023

RPI 2721

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