Publicação do pedido de patente
#3.1
06/20/2023
RPI 2737
Application data
Number
102021024519Type
Filing
Publication
The application was published in the RPI gazette on 06/20/2023 and is now open to any interested party. It moves on to technical examination at the INPI.
Latest action published by the INPI: 06/20/2023. We update with every new RPI gazette, published weekly.
Applicants
IVISION SISTEMAS DE IMAGEM E VISÃO S.A.
MG, BR
SERVIÇO NACIONAL DE APRENDIZAGEM INDUSTRIAL, DEPARTAMENTO REGIONAL DA BAHIA - SENAI/DR/BA
BA, BR
U. G. (pessoa física)
MG, BR
Inventors
A. V. (pessoa física)
BR
B. Y. (pessoa física)
BR
C. S. (pessoa física)
BR
D. N. (pessoa física)
BR
E. R. (pessoa física)
BR
H. M. (pessoa física)
BR
J. S. (pessoa física)
BR
L. G. (pessoa física)
BR
L. C. (pessoa física)
BR
M. B. (pessoa física)
BR
R. P. (pessoa física)
BR
V. S. (pessoa física)
BR
V. B. (pessoa física)
BR
V. M. (pessoa física)
BR
IPC Classification
Abstract
SISTEMA DE VARREDURA POR SONDA. Apresenta-se um sistema de varredura de amostras por sonda formado por uma cabeça de varredura, sistemas de posicionamento, um porta-amostras, um sistema de microscopia óptica e uma base maciça que integra todos os componentes. A tecnologia utiliza as técnicas de acoplamento cinemático (Ex.: "Kelvin Coupling") e construção monolítica para propiciar a movimentação de sondas dotadas de ápice nanométrico com resolução subnanométrica, controlando sua posição e orientação com relação à amostra, bem como, simultaneamente, mantendo seu alinhamento a uma possível fonte luminosa externa. O sistema permite de forma satisfatória o acoplamento elétrico e a compatibilidade eletromagnética entre suas partes constituintes. A tecnologia apresenta atributos para versatilidade do acoplamento da sonda com a cabeça de varredura facilitando a substituição e a manutenção destes elementos e a alternância entre os modos de interação da sonda com a amostra. A tecnologia aplica-se à microscopia de varredura por sonda (SPM - do inglês "Scanning probe microscopy"), por exemplo: Microscopia óptica de varredura de campo próximo (SNOM - "Scanning near field optical microscopy), Espectroscopia Raman amplificada por sonda (TERS - "tip enhanced Raman spectroscopy") e outras técnicas.
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
#3.1
06/20/2023
RPI 2737
#25.1
04/18/2023
RPI 2728
#25.3
A fim de atender a transferência de parte dos direitos, requerida através da petição nº 870220091571 de 06/10/2022, é necessário apresentar documento que comprove que os representantes da segunda depositante tem poderes para realizar tal ato. Além disso, é preciso apresentar a guia de cumprimento de exigência.
02/14/2023
RPI 2719
#2.1
01/25/2022
RPI 2664
#2.10
Número de Protocolo '870210112542' em 03/12/2021 15:27 (WB)
12/14/2021
RPI 2658
From the same holder
Same category
Patent monitoring
Receive alerts on INPI events, decisions, and expiry dates for your portfolio.