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Official data from INPI

MÉTODO IMPLEMENTADO POR COMPUTADOR, E, APARELHO PARA CONTROLAR UMA PLATAFORMA DE CORTE AGRÍCOLA

PublicadaInvention Patent

Application data

Invention Patent MÉTODO IMPLEMENTADO POR COMPUTADOR, E, APARELHO PARA CONTROLAR UMA PLATAFORMA DE CORTE AGRÍCOLA de DEERE & COMPANY — IPC A01B 69/00
Invention Patent MÉTODO IMPLEMENTADO POR COMPUTADOR, E, APARELHO PARA CONTROLAR UMA PLATAFORMA DE CORTE AGRÍCOLA de DEERE & COMPANY — IPC A01B 69/00. Drawing published by the INPI in the Industrial Property Gazette.

Number

102021022835

Type

Invention Patent

Filing

11/12/2021

Publication

08/02/2022

Progress at the INPI

  1. Filing11/12/21
  2. Publication08/02/22
  3. Examination
  4. Allowance
  5. Grant
  6. In force

The application was published in the RPI gazette on 08/02/2022 and is now open to any interested party. It moves on to technical examination at the INPI.

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Latest action published by the INPI: 08/02/2022. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

DEERE & COMPANY

US

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Inventors

B. Y. (pessoa física)

US

D. B. (pessoa física)

US

G. A. (pessoa física)

US

M. W. (pessoa física)

US

N. K. (pessoa física)

US

N. V. (pessoa física)

US

N. A. (pessoa física)

US

Technical data

IPC Classification

Priority claims

US

17/248,378 · 01/22/2021

Abstract

MÉTODO IMPLEMENTADO POR COMPUTADOR, E, APARELHO PARA CONTROLAR UMA PLATAFORMA DE CORTE AGRÍCOLA. Sistemas e métodos para controlar plataformas de corte agrícolas com base no movimento de cultivo com relação a uma porção da plataforma de corte agrícola são descritos. A presença ou o movimento de material de cultivo, tal como um material de cultivo representando grão (por exemplo, espigas, cabeças, ou vagens de cultivos (EHP)), com relação à plataforma de corte de colheitadeira ou a uma porção da plataforma de corte de colheitadeira, pode ser detectado, tal como por análise de dados de imagem representando uma ou mais imagens coletadas sobre o tempo. Com base em uma posição ou movimento ou ambos do material de cultivo com relação à plataforma de corte, um ou mais parâmetros da plataforma de corte de colheitadeira podem ser ajustados, por exemplo, para reduzir uma quantia de perda de grão.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Publicação do pedido de patente

#3.1

08/02/2022

RPI 2691

Pedido de patente depositado

#2.1

02/08/2022

RPI 2666

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '870210104975' em 12/11/2021 14:58 (WB)

11/23/2021

RPI 2655

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