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Official data from INPI

MÉTODO DE DIAGNÓSTICO QUALITATIVO E QUANTITATIVO DE CÉLULAS FOTOVOLTAICAS DE SILÍCIO CRISTALINO

ConcedidaInvention Patent

Application data

Number

102019025527

Type

Invention Patent

Filing

12/03/2019

Publication

06/15/2021

Progress at the INPI

  1. Filing12/03/19
  2. Publication06/15/21
  3. Examination
  4. Allowance01/07/25
  5. Grant02/18/25
  6. In force12/03/39

The patent was granted on 02/18/2025 and is in force until 12/03/2039. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.

Protection valid until:12/03/2039

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Latest action published by the INPI: 02/18/2025. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

INSTITUTO FEDERAL DE EDUCAÇÃO, CIÊNCIA E TECNOLOGIA DO RIO GRANDE DO NORTE

RN, BR

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Inventors

J. N. (pessoa física)

BR

Technical data

IPC Classification

Abstract

DISPOSITIVO E MÉTODO DE DIAGNÓSTICO QUALITATIVO E QUANTITATIVO DE CÉLULAS FOTOVOLTAICAS DE SILÍCIO CRISTALINO. Consiste em um dispositivo para detecção e classificação de defeitos em células fotovoltaicas de silício cristalino, tais como fissuras, microfissuras, corrosão dos materiais condutores, pontos de queimadura e demais falhas causadas pelo processo de envelhecimento, de fabricação e pós fabricação. Os testes nesse dispositivo são realizados por meio de exposição à fonte de luz contínua do tipo LED (1), focada na célula (15) por lente (2), considerando determinadas irradiância e espectros e submetendo-a à uma determinada temperatura. Os parâmetros de entrada como irradiância e temperatura podem ser passados pelo usuário do dispositivo por meio do painel de controle (21) ou do sistema supervisório (22). O dispositivo possui um classificador de defeitos (12) que sistematiza os testes por meio de um processo de detecção e classificação de defeitos que é realizado mediante análise dos parâmetros elétricos obtidos por meio da curva característica de corrente e tensão em conjunto com análise de imagens infravermelhas, obtida pela câmera térmica (18), e por imagens microscópicas, obtidas pela câmera (20), ou por meio de análise de parâmetros elétricos durante operação sob fonte de luz em regime permanente.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Concessão da patente

#16.1

Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 03/12/2019, observadas as condições legais

02/18/2025

RPI 2824

Deferimento

#9.1

01/07/2025

RPI 2818

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

11/05/2024

RPI 2809

Publicação do pedido de patente

#3.1

06/15/2021

RPI 2632

Pedido de patente depositado

#2.1

05/12/2020

RPI 2575

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '870190127223' em 03/12/2019 09:50 (WB)

12/10/2019

RPI 2553

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