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Official data from INPI

MÉTODO E APARELHO PARA DESMOLDAGEM E ANÁLISE DE UMA AMOSTRA PARA ANÁLISE DIRETA

ConcedidaInvention Patent

Application data

Invention Patent MÉTODO E APARELHO PARA DESMOLDAGEM E ANÁLISE DE UMA AMOSTRA PARA ANÁLISE DIRETA de HERAEUS ELECTRO-NITE INTERNATIONAL N.V. — IPC G01N 1/28
Invention Patent MÉTODO E APARELHO PARA DESMOLDAGEM E ANÁLISE DE UMA AMOSTRA PARA ANÁLISE DIRETA de HERAEUS ELECTRO-NITE INTERNATIONAL N.V. — IPC G01N 1/28. Drawing published by the INPI in the Industrial Property Gazette.

Number

102019025301

Type

Invention Patent

Filing

11/29/2019

Publication

11/10/2020

Progress at the INPI

  1. Filing11/29/19
  2. Publication11/10/20
  3. Examination
  4. Allowance07/09/24
  5. Grant09/24/24
  6. In force11/29/39

The patent was granted on 09/24/2024 and is in force until 11/29/2039. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.

Protection valid until:11/29/2039

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Latest action published by the INPI: 09/24/2024. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

HERAEUS ELECTRO-NITE INTERNATIONAL N.V.

BE

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Inventors

J. C. (pessoa física)

BE

J. V. (pessoa física)

BE

Technical data

Priority claims

EP

19156339.4 · 02/11/2019

Abstract

A presente invenção refere-se a um aparelho para desmoldagem e análise de uma amostra para análise direta formada a partir de um material de metal fundido contido dentro de um conjunto de câmara de amostra, em que o conjunto da câmara de amostra compreende pelo menos um nicho de amostra, uma placa de cobertura e meios de fechamento que compreendem: um gabinete que define um interior e que compreende pelo menos uma abertura para o nicho de amostra entrar no gabinete e meios de análise localizados dentro do gabinete para analisar uma superfície para análise da amostra; meios de desmoldagem adaptados para remover pelo menos os meios de fechamento para expor pelo menos parte da superfície para análise da amostra; e meios de transporte adaptados para reter e transportar o nicho de amostras pelo menos entre uma posição de desmoldagem de amostras; em que os meios de fechamento são removidos pelos meios de desmoldagem; e uma posição para análise de amostra, em que a superfície para análise da amostra é analisada pelos meios de análise e em que a posição de desmoldagem da amostra e a posição para análise da amostra são diferentes uma da outra. A invenção também refere-se a um sistema e método para desmoldar e analisar uma amostra para análise direta.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Concessão da patente

#16.1

Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 29/11/2019, observadas as condições legais

09/24/2024

RPI 2803

Deferimento

#9.1

07/09/2024

RPI 2792

Parecer de pré-exame

#6.23

03/26/2024

RPI 2777

Publicação do pedido de patente

#3.1

11/10/2020

RPI 2601

Pedido de patente depositado

#2.1

05/12/2020

RPI 2575

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '870190125511' em 29/11/2019 14:09 (WB)

12/10/2019

RPI 2553

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