APARELHO PARA ANÁLISE DE GÁS E MÉTODO DE ANÁLISE DE GÁS

IPC Classification

Priority claims

Abstract

O presente pedido se refere a método e aparelho para análise de gás. Um aparelho (200) pode ter um primeiro refletor (103) e um segundo refletor (104) posicionados em ambos os lados de um volume de amostra (202) para uma amostra de gás. A configuração do primeiro refletor pode ser variável entre, pelo menos, a primeira (103) e a segunda (103a) configurações, em que cada uma da primeira e segunda configurações está disposta de tal modo que um feixe de radiação óptica a partir de uma origem do feixe óptico (210) é direcionado para uma localização de detector (212) através do volume de amostra. Na segunda configuração, o feixe de radiação óptica é refletido pelo menos uma vez a partir de cada um do primeiro e segundo refletores e o comprimento de trajetória do feixe de radiação óptica através do volume de amostra é maior do que na primeira configuração.