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Official data from INPI

MÉTODO, DISPOSITIVO E SISTEMA PARA DETERMINAR A LOCALIZAÇÃO DE FALHA

ConcedidaInvention Patent

Application data

Invention Patent MÉTODO, DISPOSITIVO E SISTEMA PARA DETERMINAR A LOCALIZAÇÃO DE FALHA — IPC G01R 31/02
Invention Patent MÉTODO, DISPOSITIVO E SISTEMA PARA DETERMINAR A LOCALIZAÇÃO DE FALHA — IPC G01R 31/02. Drawing published by the INPI in the Industrial Property Gazette.

Number

102017000639

Type

Invention Patent

Filing

01/12/2017

Publication

07/18/2017

Progress at the INPI

  1. Filing01/12/17
  2. Publication07/18/17
  3. Examination
  4. Allowance12/06/22
  5. Grant02/28/23
  6. In force01/12/37

The patent was granted on 02/28/2023 and is in force until 01/12/2037. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.

Protection valid until:01/12/2037

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Latest action published by the INPI: 02/28/2023. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

S. A. (pessoa física)

DE

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Inventors

A. J. (pessoa física)

DE

C. D. (pessoa física)

DE

Technical data

IPC Classification

Priority claims

EP

16151071.4 · 01/13/2016

Abstract

A invenção se refere a um método para determinar a localização de falha (F) de uma falha em uma linha (11) de uma rede de fornecimento de energia elétrica, na qual primeiros valores de corrente e voltagem são medidos em uma primeira extremidade de linha (11a) da linha (11), segundos valores de corrente e voltagem são medidos em uma segunda extremidade de linha (11b) da linha (11), e a localização de falha (F) da dita falha é definida usando os primeiros e os segundos valores de corrente e voltagem seguindo a ocorrência de uma falha na linha (11). De maneira a ser capaz de realizar uma localização de falha com valores medidos a partir de ambas as extremidades de linha com alta precisão mesmo na ausência de sincronização temporal das medições nas extremidades de linha, é proposto que uma característica dos primeiros valores de voltagem de falha fictícios presentes em uma localização de falha fictícia na linha (11) seja definida usando os primeiros valores de corrente e voltagem, uma característica dos segundos valores de voltagem de falha fictícios presentes em uma localização de falha fictícia na linha (11) é definida usando os segundos valores de corrente e voltagem, uma localização de falha fictícia deste tipo na linha (11) é determinada para a qual a característica dos primeiros valores de voltagem de falha fictícios corresponde de maneira mais próxima com a característica dos segundos valores de voltagem de falha fictícios, e a localização de falha fictícia determinada é usada como a localização de falha (F) da falha na linha (11). A invenção também se refere a um dispositivo configurado de maneira correspondente (15a, 15b) e um sistema para determinar uma localização de falha.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Concessão da patente

#16.1

Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 12/01/2017, observadas as condições legais

02/28/2023

RPI 2721

Deferimento

#9.1

12/06/2022

RPI 2709

Parecer de pré-exame

#6.23

06/21/2022

RPI 2685

Publicação do pedido de patente

#3.1

07/18/2017

RPI 2428

Pedido de patente depositado

#2.1

02/21/2017

RPI 2407

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '870170002232' em 12/01/2017 11:10 (WB)

01/24/2017

RPI 2403

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