Invention Patent DISPOSITIVO DE CARACTERIZAÇÃO OPTOELETRÔNICA DE MATERIAIS de CONSEJO NACIONAL DE INVESTIGACIONES CIENTÍFICAS Y TÉCNICAS - CONICET — IPC C21D 1/773. Drawing published by the INPI in the Industrial Property Gazette.
The application was abandoned: the INPI technical office action was not answered in time (art. 36 of the Brazilian IP Act). The technology is in the public domain in Brazil.
DISPOSITIVO DE CARACTERIZAÇÃO OPTOELETRÔNICA DEMATERIAIS Um dispositivo de caracterização optoeletrônica de materiais que alteram a sua resposta elétrica ou ótica, de acordo com o tempo e a temperatura em atmosferas de diferentes gases, que compreende um cabeçote desmontável constituído por microeletrodos montado dentro de uma câmara de sílica tubular, translúcida à luz visível para permitir a observação da alteração de cor do material sensor; forno retrátil, de montagem rápida com uma janela central, que permite caracterizações em presença da luz de diferentes comprimentos de onda; tampas nos extremos desta câmara de sílica tubular que dispõem de meios para: fechar de modo estanque esta câmara, permitir a circulação de gases, de radiação, e incorporar sensores, sondas e cabos.
Prosecution history
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
Arquivamento - Art. 36 §1° da LPI
#11.2
06/20/2023
RPI 2737
Exigência preliminar (variante)
#6.22
03/07/2023
RPI 2722
Publicação do pedido de patente
#3.1
06/06/2017
RPI 2422
Pedido de patente depositado
#2.1
03/01/2017
RPI 2408
Exigência - art. 21 da LPI
#2.5
02/14/2017
RPI 2406
Requerimento de pedido de patente
#2.10
Número de Protocolo 870160072288 em 02/12/2016 02:59(WB).
