Invention Patent DISPOSITIVOS E MÉTODOS PARA TESTES DE CIRCUITOS INTEGRADOS — IPC G01R 31/26. Drawing published by the INPI in the Industrial Property Gazette.
The application was abandoned: examination was not requested within the 36 months following the 06/01/2016 filing, the deadline set by art. 33 of the Brazilian IP Act. The technology is in the public domain in Brazil.
A presente invenção refere-se a um circuito integrado, que inclui uma primeira unidade de energia, uma segunda unidade de energia, e um comutador de seleção. A primeira unidade de energia gera uma primeira tensão de saída e é acoplada a um primeiro pino de carga. O primeiro pino de carga é acoplado a uma primeira carga. A segunda unidade de energia gera uma segunda tensão de saída e é acoplada a um segundo pino de carga. O segundo pino de carga é acoplado a uma segunda carga. O comutador de seleção gera a primeira tensão de saída ou a segunda tensão de saída para um pino de tensão de acordo com um sinal de seleção.
Prosecution history
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI
#11.1.1
09/10/2019
RPI 2540
Arquivamento - Art. 33 da LPI
#11.1
06/25/2019
RPI 2529
Retificação de publicação
#3.8
Referente ao Despacho de cód.3.1 publicado na RPI 2400 de 03/01/2017, relativo ao campo INID (51) Classificação Internacional.
02/27/2018
RPI 2460
Publicação do pedido de patente
#3.1
01/03/2017
RPI 2400
Pedido de patente depositado
#2.1
07/12/2016
RPI 2375
Requerimento de pedido de patente
#2.10
Número de Protocolo 870160024822 em 01/06/2016 04:46(WB).
