Alteração de sede deferida
#25.7
06/11/2024
RPI 2788
Application data
Number
102016004755Type
Filing
Publication
The patent was granted on 09/06/2022 and is in force until 03/03/2036. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.
Protection valid until:03/03/2036
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Applicants
I. S. (pessoa física)
FR
STARCHIP
FR
Inventors
A. C. (pessoa física)
FR
C. L. (pessoa física)
FR
S. B. (pessoa física)
FR
IPC Classification
Priority claims
FR
15/51904 · 03/06/2015
Abstract
DISPOSITIVO DE TESTE DE CIRCUITOS INTEGRADOS SOBRE UMA PASTILHA DE SíLICIO, CIRCUITO INTEGRADO E MÉTODOS DE TESTES A presente invenção refere-se a um dispositivo de teste de circuitos integrados sobre um wafer de sílicio, caracterizada porque o dispositivo de teste compreende uma conexão de entrada/saída para teste de um circuito integrado e em que o dispositivo de teste compreende: meio (E71) de transferência de um quadro de dados ao circuito integrado por meio da conexão de entrada/saída, o quadro de dados compreende uma referência temporal para os dados incluídos no quadro de dados, um campo de validação da referência temporal e um campo de dados que compreende pelo menos um comando teste do circuito integrado; meio (E74) de recepção de um quadro de dados por meio da conexão de entrada/saída, os dados no quadro de dados recebido têm uma duração que é um múltiplo da referência temporal.
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
#25.7
06/11/2024
RPI 2788
#25.4
05/28/2024
RPI 2786
#16.1
Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 03/03/2016, observadas as condições legais
09/06/2022
RPI 2696
#9.1
08/02/2022
RPI 2691
#6.21
07/07/2020
RPI 2583
#6.6.1
05/14/2019
RPI 2523
05/07/2019
RPI 2522
#8.6
Referente à 3ª anuidade.
03/06/2019
RPI 2513
#3.1
09/06/2016
RPI 2383
#2.1
05/31/2016
RPI 2369
#2.10
Número de Protocolo 860160050399 em 03/03/2016 01:12(WB).
03/15/2016
RPI 2358
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