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Official data from INPI

DISPOSITIVO DE TESTE DE CIRCUITOS INTEGRADOS SOBRE UMA PASTILHA DE SILÍCIO, CIRCUITO INTEGRADO E MÉTODOS DE TESTES

Em AnáliseInvention Patent

Application data

Number

102016004755

Type

Invention Patent

Filing

03/03/2016

Publication

09/06/2016

Progress at the INPI

  1. Filing03/03/16
  2. Publication09/06/16
  3. Examination
  4. Allowance08/02/22
  5. Grant09/06/22
  6. In force03/03/36

The patent was granted on 09/06/2022 and is in force until 03/03/2036. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.

Protection valid until:03/03/2036

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Latest action published by the INPI: 06/11/2024. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

I. S. (pessoa física)

FR

STARCHIP

FR

Inventors

A. C. (pessoa física)

FR

C. L. (pessoa física)

FR

S. B. (pessoa física)

FR

Technical data

IPC Classification

Priority claims

FR

15/51904 · 03/06/2015

Abstract

DISPOSITIVO DE TESTE DE CIRCUITOS INTEGRADOS SOBRE UMA PASTILHA DE SíLICIO, CIRCUITO INTEGRADO E MÉTODOS DE TESTES A presente invenção refere-se a um dispositivo de teste de circuitos integrados sobre um wafer de sílicio, caracterizada porque o dispositivo de teste compreende uma conexão de entrada/saída para teste de um circuito integrado e em que o dispositivo de teste compreende: meio (E71) de transferência de um quadro de dados ao circuito integrado por meio da conexão de entrada/saída, o quadro de dados compreende uma referência temporal para os dados incluídos no quadro de dados, um campo de validação da referência temporal e um campo de dados que compreende pelo menos um comando teste do circuito integrado; meio (E74) de recepção de um quadro de dados por meio da conexão de entrada/saída, os dados no quadro de dados recebido têm uma duração que é um múltiplo da referência temporal.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Alteração de sede deferida

#25.7

06/11/2024

RPI 2788

Alteração de nome deferida

#25.4

05/28/2024

RPI 2786

Concessão da patente

#16.1

Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 03/03/2016, observadas as condições legais

09/06/2022

RPI 2696

Deferimento

#9.1

08/02/2022

RPI 2691

Exigência preliminar

#6.21

07/07/2020

RPI 2583

Notificação de acesso ao patrimônio genético

#6.6.1

05/14/2019

RPI 2523

8.7

05/07/2019

RPI 2522

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente à 3ª anuidade.

03/06/2019

RPI 2513

Publicação do pedido de patente

#3.1

09/06/2016

RPI 2383

Pedido de patente depositado

#2.1

05/31/2016

RPI 2369

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo 860160050399 em 03/03/2016 01:12(WB).

03/15/2016

RPI 2358

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