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Official data from INPI

MÉTODO DE FABRICAÇÃO DE TRANSISTOR

ConcedidaInvention Patent

Application data

Invention Patent MÉTODO DE FABRICAÇÃO DE TRANSISTOR de UNIVERSIDADE DE SÃO PAULO - USP — IPC H01L 21/02
Invention Patent MÉTODO DE FABRICAÇÃO DE TRANSISTOR de UNIVERSIDADE DE SÃO PAULO - USP — IPC H01L 21/02. Drawing published by the INPI in the Industrial Property Gazette.

Number

102015020974

Type

Invention Patent

Filing

08/28/2015

Publication

03/07/2017

Progress at the INPI

  1. Filing08/28/15
  2. Publication03/07/17
  3. Examination
  4. Allowance04/11/23
  5. Grant05/23/23
  6. In force08/28/35

The patent was granted on 05/23/2023 and is in force until 08/28/2035. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.

Protection valid until:08/28/2035

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Latest action published by the INPI: 05/23/2023. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

UNIVERSIDADE DE SÃO PAULO - USP

SP, BR

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Inventors

J. M. (pessoa física)

BR

R. R. (pessoa física)

BR

Technical data

IPC Classification

Abstract

ResumoTransistor com formação de fonte e dreno induzida por efeito de campo elétrico e seu método de fabricaçãoA presente invenção refere-se a transistor SOI MOSFET (Silicon On Insulator Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor) e a seu método de fabricação a partir de uma lâmina SOI.O método de fabricação do transistor compreende as seguintes etapas:a. Ajuste da espessura da lâmina;b. Seleção da região ativa da lâmina;c. Corrosão completa da camada de óxido de silício superior;d. Formação do óxido de porta;e. Deposição do metal de porta;f. Definição do eletrodo de porta;g. Obtenção do eletrodo metálico nas regiões de fonte e dreno;h. Deposição de metal na superfície inferior do substrato;i. Sinterização do dispositivo;O transistor é composto por: eletrodo de porta (5), fonte (6), dreno (7), isolante de porta (4) e isolante enterrado (2), eletrodo de substrato (8), camada de silício (3), semicondutor (1). Como no método de fabricação não há uma etapa para inserção de impurezas que determinam o tipo de portador de carga majoritário (elétrons ou lacunas) que formaria a fonte/dreno, existe a possibilidade de criar uma camada contendo um ou outro tipo de portador dependendo da tensão aplicada no substrato.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Concessão da patente

#16.1

Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 28/08/2015, observadas as condições legais

05/23/2023

RPI 2733

Deferimento

#9.1

04/11/2023

RPI 2727

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

11/08/2022

RPI 2705

Notificação de acesso ao patrimônio genético

#6.6.1

10/30/2018

RPI 2495

Publicação do pedido de patente

#3.1

03/07/2017

RPI 2409

Pedido de patente depositado

#2.1

03/01/2016

RPI 2356

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo 860150192693 em 28/08/2015 07:00(WB).

09/08/2015

RPI 2331

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