Concessão da patente
#16.1
Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 10/06/2015, observadas as condições legais
09/27/2022
RPI 2699
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Official data from INPI
SISTEMA DE TESTE FLEXÍVEL PARA TESTES SIMULTÂNEOS E SERIAIS DE CIRCUITOS INTEGRADOS EM LÂMINA DE SILÍCIO E MÉTODO DE TESTES SIMULTÂNEOS E SERIAIS DE CIRCUITOS INTEGRADOS EM LÂMINA DE SILÍCIO
ConcedidaInvention Patent
Application data
Number
102015013500Type
Invention Patent
Filing
06/10/2015
Publication
12/27/2016
Progress at the INPI
- Filing06/10/15
- Publication12/27/16
- Examination
- Allowance07/12/22
- Grant09/27/22
- In force06/10/35
The patent was granted on 09/27/2022 and is in force until 06/10/2035. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.
Protection valid until:06/10/2035
Latest action published by the INPI: 09/27/2022. We update with every new RPI gazette, published weekly.
Applicants and inventors
Applicants
CENTRO NACIONAL DE TECNOLOGIA ELETRÔNICA AVANÇADA S.A.
RS, BR
Inventors
A. C. (pessoa física)
BR
D. L. (pessoa física)
BR
E. C. (pessoa física)
BR
J. F. (pessoa física)
BR
J. J. (pessoa física)
BR
M. L. (pessoa física)
BR
Technical data
IPC Classification
Abstract
MECANISMO DE TESTE FLEXÍVEL PARA TESTES SIMULTÂNEOS E SERIAIS DE CIRCUITOS INTEGRADOS EM LÂMINA DE SILÍCIO E MÉTODO DE TESTES SIMULTÂNEOS E SERIAIS DE CIRCUITOS INTEGRADOS EM LÂMINA DE SILÍCI. A presente invenção pertence ao setor tecnológico de sistemas eletrônicos e refere-se, mais especificamente, a um mecanismo flexível para otimizar os procedimentos de testes de circuitos integrados em lâmina de silício (wafer), podendo esses serem executados tanto simultaneamente quanto serialmente. A solução em questão visa uma forma de integração da técnica de transpor sinais de um circuito integrado para as scribe lines, dispostas no wafer, com mecanismos de teste propostos. A solução em questão prevê um mecanismo e interface de testes dotado de três pinos para teste estrutural e funcional associado a um mecanismo de execução de testes simultâneos. Além disso, a invenção proposta visa propor um método para realização de testes simultâneos e seriais de circuitos integrados em wafers.
Prosecution history
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
Deferimento
#9.1
07/12/2022
RPI 2688
Exigência - art. 36 da LPI
#6.1
03/08/2022
RPI 2670
Exigência preliminar (variante)
#6.22
11/09/2021
RPI 2653
Notificação de acesso ao patrimônio genético
#6.6.1
10/30/2018
RPI 2495
Publicação do pedido de patente
#3.1
12/27/2016
RPI 2399
Pedido de patente depositado
#2.1
09/29/2015
RPI 2334
Exigência - art. 21 da LPI
#2.5
07/21/2015
RPI 2324
Requerimento de pedido de patente
#2.10
Número de Protocolo 860150117139 em 10/06/2015 11:09(WB).
06/23/2015
RPI 2320
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