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Official data from INPI

MÉTODO PARA MEDIÇÃO DE ESPESSURA, DETECÇÃO DE FALHAS, CONTROLE E MONITORAMENTO DA QUALIDADE DE FIOS ATRAVÉS DE UM DISPOSITIVO ÓPTICO

ConcedidaInvention Patent

Application data

Number

102014030241

Type

Invention Patent

Filing

12/03/2014

Publication

06/28/2016

Progress at the INPI

  1. Filing12/03/14
  2. Publication06/28/16
  3. Examination
  4. Allowance06/14/22
  5. Grant07/12/22
  6. In force12/03/34

The patent was granted on 07/12/2022 and is in force until 12/03/2034. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.

Protection valid until:12/03/2034

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Latest action published by the INPI: 07/12/2022. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

FIAÇÃO DE SEDA BRATA S.A

PR, BR

SERVIÇO NACIONAL DE APRENDIZAGEM INDUSTRIAL

BA, BR

Inventors

B. A. (pessoa física)

BR

F. T. (pessoa física)

BR

J. S. (pessoa física)

BR

T. C. (pessoa física)

BR

T. S. (pessoa física)

BR

Technical data

Abstract

DISPOSITIVO ÓPTICO PARA MEDIÇÃO DE ESPESSURA, DETECÇÃO DE FALHAS, CONTROLE E MONITORAMENTO DA QUALIDADE DE FIOS. O presente pedido de privilégio de invenção consiste em um dispositivo óptico-eletrônico para medir o diâmetro de vários tipos de fios, preferencialmente de seda, que estejam entre 20 um 1000 um tenndo uma precisão menor ou igual a ±0,5 um para fios com diâmetro entre 2O um e 10 um e precisão menor igual a 0,65% para fios com diâmetro entre 70 um e 1000 um. O dispositivo é destinado principalmente ao controle de qualidade destes fios produzidos pela indústria têxtil, com monitoramento contínuo do diâmetro além da detecção de imperfeições (partículas) e nós (fush!s) nos fios, com capacidade de envio dos dados através de rede de comunicação com ou sem fio e interface homem-máquina para configuração de suas funcionalidades e levantamento estatístico dos dados monitorados. A invenção proposta faz uso de uma técnica óptica não invasiva para medir os fios, sendo que com essa técnica é possível medir fios opacos e translúcidos, tais como fios têxteis, de ligas metálicas, de náilon e etc. Além disso, todo o processamento do sinal é realizado com análise do sinal no domínio da frequência, possibilitando operar tanto em ambiente laboratorial quanto em ambiente industrial, sujeito a diversas restrições.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Concessão da patente

#16.1

Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 03/12/2014, observadas as condições legais

07/12/2022

RPI 2688

Deferimento

#9.1

06/14/2022

RPI 2684

Exigência preliminar (variante)

#6.22

06/29/2021

RPI 2634

Notificação de acesso ao patrimônio genético

#6.6.1

11/06/2018

RPI 2496

Desarquivamento

#4.3

10/02/2018

RPI 2491

6.7

Para que sejam aceitas as petições de exame Nº 800180178674 de 16/05/2018 (GRU 29409161804832510) e desarquivamento Nº 870180041350 de 17/05/2018 apresente complementação das retribuições para valor sem desconto, uma vez que o depositante não faz jus ao mesmo, conforme tabela vigente.

07/24/2018

RPI 2481

Arquivamento - Art. 33 da LPI

#11.1

07/03/2018

RPI 2478

8.7

05/29/2018

RPI 2473

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente à 3ª anuidade.

03/06/2018

RPI 2461

Publicação do pedido de patente

#3.1

06/28/2016

RPI 2373

Pedido de patente depositado

#2.1

03/31/2015

RPI 2308

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo 860140202291 em 03/12/2014 02:35(WB).

12/30/2014

RPI 2295

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