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Official data from INPI

MÉTODO ALTERNATIVO PARA OBTENÇÃO DO COEFICIENTE DE TEMPERATURA DA FREQUENCIA RESSONANTE NA REGIÃO DE MICRO-ONDAS(tf)

ConcedidaInvention Patent

Application data

Invention Patent MÉTODO ALTERNATIVO PARA OBTENÇÃO DO COEFICIENTE DE TEMPERATURA DA FREQUENCIA RESSONANTE NA REGIÃO DE MICRO-ONDAS(tf) — IPC G01N 22/00
Invention Patent MÉTODO ALTERNATIVO PARA OBTENÇÃO DO COEFICIENTE DE TEMPERATURA DA FREQUENCIA RESSONANTE NA REGIÃO DE MICRO-ONDAS(tf) — IPC G01N 22/00. Drawing published by the INPI in the Industrial Property Gazette.

Number

102013001855

Type

Invention Patent

Filing

01/24/2013

Publication

12/09/2014

Progress at the INPI

  1. Filing01/24/13
  2. Publication12/09/14
  3. Examination
  4. Allowance04/13/21
  5. Grant06/08/21
  6. In force01/24/33

The patent was granted on 06/08/2021 and is in force until 01/24/2033. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.

Protection valid until:01/24/2033

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Latest action published by the INPI: 06/08/2021. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

U. C. (pessoa física)

CE, BR

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Inventors

A. S. (pessoa física)

BR

M. S. (pessoa física)

BR

T. F. (pessoa física)

BR

Technical data

IPC Classification

Abstract

UM NOVO MÉTODO PARA OBTENÇÃO DO COEVICIENTE DE TEMPERATURA DA FREQUÊNCIA RESSONANTE NA REGIÃO DE MICRO-ONDAS Nesta patente um novo método de medição do valor do coeficiente de temperatura da frequência ressonante (tf) para amostras dielétricas é apresentado. O métodotradicional (baseado no método de Courtney) apresenta algumas limitaçaes para a medição do tf, como por exemplo, amostra com altas perdas dielétricas, devido é degradação do modo TE011 ser prejudicada devido ao decrescimento do fator de qualidade Q do dielétrico. Um novo arranjo experimental, para medir o tf, baseado na variação do modo dominante de uma DRA com o aumento de temperatura é proposta nesta patente. Este novo método é bastante compatível com a medida tradicional do tf. Esta nova metodologia apresenta como grande vantagem por ser pouco sensível a perda dielétrica do material. Nas amostras comperda dielétricas superiores a 1x102 estudadas foipossível a medição do tf. amostras com tf conhecido foram medidas em ambos métodos, o tradicional e o proposto nesta patente. A Alumina (A1203) e o Titanato de célcio (CaTiO3) foram selecionados devido seu t2 serem conhecidos na literatura e suas perdas dielétricas serem baixas (iO3), o niobato de bismuto e tít&nío (Bi3NbTíOg) foi escolhido por nAo ser possível medir t2 no método tradicional devido sua alta perda dielétrica. Os resultados obtídos para a medida de t~ do CaTiO3 e da A1203, no novo método proposto, apresentou uma excelente concordância com os resultado obtido pelo método tradicional, também mostrou-se um método muito eficiente para a medida de tf de amostras com alto valor de perdas dielétrícas (>102),como o niobato de bismuto e titânio (Bi3NbTíO9).

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Concessão da patente

#16.1

20 (vinte) anos contados a partir de 24/01/2013, observadas as condições legais

06/08/2021

RPI 2631

Deferimento

#9.1

04/13/2021

RPI 2623

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

12/22/2020

RPI 2607

Conhecimento de parecer técnico

#7.1

07/28/2020

RPI 2586

Exigência preliminar (variante)

#6.22

01/14/2020

RPI 2558

Notificação de acesso ao patrimônio genético

#6.6.1

12/04/2018

RPI 2500

Retificação de publicação

#3.8

REFERENTE À RPI 2292 DE 09/12/2014 QUANTO AO ITEM (54)

05/15/2018

RPI 2471

Publicação do pedido de patente

#3.1

12/09/2014

RPI 2292

Pedido de patente depositado

#2.1

08/12/2014

RPI 2275

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo 13130000021 em 24/01/2013 04:13(CE).

07/29/2014

RPI 2273

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