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Official data from INPI

MÉTODO PARA MONITORAR A QUALIDADE DOS PROCESSOS INDUSTRIAIS E SEUS SISTEMAS

ArquivadaInvention Patent

Application data

Number

102012027171

Type

Invention Patent

Filing

10/23/2012

Publication

07/15/2014

Progress at the INPI

  1. Filing10/23/12
  2. Publication07/15/14
  3. Abandoned
  4. Allowance
  5. Grant
  6. In force

The application was abandoned: the INPI technical office action was not answered in time (art. 36 of the Brazilian IP Act). The technology is in the public domain in Brazil.

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Latest action published by the INPI: 02/18/2020. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

C. R. F. SOCIETÀ CONSORTILE PER AZIONI

IT

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Inventors

G. D. (pessoa física)

IT

Technical data

IPC Classification

Priority claims

EP

12154007.4 · 02/06/2012

Abstract

"MÉTODO PARA MONITORAR A QUALIDADE DOS PROCESSOS INDUSTRIAIS E SEUS SISTEMAS" Um método para monitorar a qualidade de um processo de trabalho industrial, que inclui identificar defeitos do processo de trabalho, do tipo compreendendo as etapas de: - adquirir (100) pelo menos um sinal (x(t)), tendo componentes de múltiplas frequência do processo de trabalho industrial (10), De acordo com a invenção, o método ainda compreende as operações de: - decompor (200) dito pelo menos um sinal tendo componentes de múltiplas frequências (x(t)) em sinais tendo componentes de frequência única (IMF~1~...IMF~n-1~, OIMF~1~...OIMF~n-1~), - calcular (300) o conteúdo informativo (var~1~...var~n-1~) para cada sinal tendo um componente de frequência única (IMF~1~...IMF~n-1~OIMF~1~...OIMF~n-1~), - analisar (400) o conteúdo informativo (var~1~...var~n-1~) para cada sinal tendo um componente de frequência única (IMF~1~...IMF~n-1~, OIMF~1~...OIMF~n-1~), e se o valor do conteúdo informativo (var~n-1~) do sinal do componente de frequência única mais baixo (IMF~n1~, OIMF~n-1~) não representar uma porcentagem principal (k, k1, k2) do conteúdo informativo do sinal total adquirido (x(t)), dito sinal adquirido tendo componentes de múltiplas frequência (x(t)) é avaliado como indicativo de um processo de trabalho com defeitos, e uma etapa de análise de defeitos (500) é realizada em dito sinal tendo componentes de múltiplas frequências (x(t)).

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Arquivamento - Art. 36 §1° da LPI

#11.2

02/18/2020

RPI 2563

Exigência preliminar

#6.21

10/29/2019

RPI 2547

Notificação de acesso ao patrimônio genético

#6.6.1

12/04/2018

RPI 2500

Publicação do pedido de patente

#3.1

07/15/2014

RPI 2271

Pedido de patente depositado

#2.1

12/03/2013

RPI 2239

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo 20120099784 em 23/10/2012 04:30(RJ).

03/12/2013

RPI 2201

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