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Offizielle Daten vom INPI

SISTEMA E MÉTODO PARA MEDIÇÃO DE QUALIDADE DE IMAGEM.

ArquivadaErfindungspatentPCT · US2015067580

Anmeldedaten

Nummer

112017014158

Typ

Erfindungspatent

Anmeldung

28.12.2015

Veröffentlichung

06.03.2018

PCT

US2015067580

Stand beim INPI

  1. Anmeldung28.12.15
  2. Veröffentlichung06.03.18
  3. Eingestellt
  4. Erteilungsbeschluss
  5. Erteilung
  6. In Kraft

Pedido arquivado: a exigência técnica do INPI não foi cumprida no prazo (art. 36 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

Mit einem Fachmann sprechen

Letzte vom INPI veröffentlichte Handlung: 04.04.2023. Wir aktualisieren mit jeder neuen, wöchentlich erscheinenden RPI.

Anmelder und Erfinder

Anmelder

KODAK ALARIS INC.

US

Erfinder

L. B. (pessoa física)

US

Technische Daten

IPC-Klassifikation

Prioritätsansprüche

US

14/586285 · 30.12.2014

Zusammenfassung

São descritos um sistema e método para detecção da qualidade de uma imagem digital capturada representando um documento impresso. A imagem digital capturada é analisada para determinar um borrão, ruído, ponto de acesso correspondente e métrica de iluminação desigual que representa um nível de qualidade dos dados de imagem. O borrão, ruído, ponto de acesso, e métricas de iluminação desiguais são então combinados para formular a indicador de passagem/alerta/falha para o usuário responder à qualidade de imagem digital capturada.

Verfahrensgeschichte

Veröffentlichungen im Brasilianischen Amtsblatt für gewerblichen Rechtsschutz (RPI).

Arquivamento - Art. 36 §1° da LPI

#11.2

04.04.2023

RPI 2726

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

20.12.2022

RPI 2711

Exigência preliminar

#6.21

26.05.2020

RPI 2577

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

Tendo em vista o disposto na Nota nº 0345-2017-AGU/PGF/PFE/INPI/COOPI-DJT-2.2 da Procuradoria Federal Especializada junto ao INPI, bem como os princípios da proporcionalidade e eficiência, ficou dispensado o exame da autenticidade da procuração neste processo.

06.03.2018

RPI 2461

Alteração de dados cadastrais

#1.1

29.08.2017

RPI 2434

Patentüberwachung

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